Все объекты Таможенного реестра интеллектуальной собственности для кода 9027 80 130 0 ппаратура для измерений физических свойств полупроводниковых материалов или подложек жидкокристаллических устройств, или нанесенных изолирующих и проводящих слоев в процессе изготовления полупроводниковых пластин или жидкокристаллических устройств (по 31.12.2021)

Поиск
прочие: (по 31.12.2021)
всего 0 кодов
9027 80 130 0 ппаратура для измерений физических свойств полупроводниковых материалов или подложек жидкокристаллических устройств, или нанесенных изолирующих и проводящих слоев в процессе изготовления полупроводниковых пластин или жидкокристаллических устройств (по 31.12.2021)